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上海理工大学2017年考研806测控电路考试大纲

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发表于 2016-8-30 14:47:21 | 显示全部楼层 |阅读模式
  下面是中公考研整理的上海理工大学2017年考研806测控电路考试大纲,以供各位考生参考。
  《测控电路》考试大纲
  一、基本要求
  能够综合运用电子技术解决测量与控制中的任务,在电子技术与测量、控制间架起一座桥梁,熟悉典型测控电路的类型,组成和基本原理,掌握测控系统中的常用单元功能电路,了解测控电路的设计方法和运用技术。
  二、考试内容范围
  1、测控电路基本概念
  测控电路的功用、对测控电路的主要要求、测控电路的输入信号与输出信号、测控电路的类型与组成。
  2、信号放大电路
  运算放大器的误差及其补偿、典型测量放大电路、隔离放大电路。
  3、信号调制解调电路
  调幅式测量电路、调频式测量电路、调相式测量电路、脉冲调制式测量电路。
  4、信号分离电。
  滤波器基本知识、RC滤波电路。
  5、信号运算电路
  比例运算放大电路、 加法运算电路、减法运算电路、 对数运算电路、指数运算电路、乘除运算电路、微分积分运算电路、常用特征值运算电路。
  6、信号转换电路
  模拟开关、采样保持电路、电压比较电路、电压频率转换电路、电压电流转换电路、 模拟数字转换电路。
  7、直传式细分电路
  8、电量测量电路
  频率测量、相位测量、脉冲参数测量。
  9、连续信号控制电路
  导电角控制逆变器、脉宽调制(PWM)控制电路、变频控制电路的基本原理与控制方式。
  10、二值逻辑控制与驱动电路
  主要参考教材书
  《测控电路》张国雄主编,机械工业出版社,2006年第2版
  三、试题类型
  闭卷笔试
  以上是中公考研在小编整理的上海理工大学2017年考研805应用光学考试大纲。为了帮助考生更好地复习,
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